发现苹果在测试新一代 Apple S7E 控制器的 NAND 颗粒了

第一个点是这个 NAND 颗粒的基础信息，网友根据编码去反查，查出来单 Die 是 128GB 容量，也就是说整个 512GB 存储由 4 个 NAND Die + S7E 控制器组成，使用的是美光的 170 层 TLC NAND，每个 Die 有 6 个 Plane，整体的 NAND 内部并行度还是比较高的。

第二个点是驱动类名 AppleANS3CGv3Controller，也就是用的苹果新一代 Apple NAND Storage 控制器，之前的 A15～A19、M2～M5 都是 ANS3CGv2，这次出现了 v3，同时 NAND 内部的控制器也出现了 S7E，也就是说不是单独的 NAND 颗粒本身换代，而是整个 NAND + 存储控制器整套存储子系统一起升级了。

这里盲猜未来的两个方向：第一个可能是为了后面的 PCIe 6.0，提前把新一代存储控制器给测试起来；第二个可能和 AI、录像有关，苹果现在在不断往端侧 AI 去发展，再加上高规格的视频录像，对存储带宽和持续性能的要求会越来越高，也是提前为这些做准备。

配图来自 Device Lab 硬盘信息分析报告。